半導體晶圓制造高度依賴高純氬、氮、氫氣作為工藝載氣,刻蝕、擴散、封裝三大核心工序全程依靠惰性氣體隔絕雜質。管路、純化裝置細微滲漏帶來的微量水汽,看似微不足道,卻會在高溫、真空環境下與硅片、金屬布線發生反應,生成氧化層,造成刻蝕側壁粗糙、薄膜針孔、焊線虛焊等缺陷,大批量高價值晶圓直接報廢。想要實現載氣露點全流程閉環管控,從源頭消除水分帶來的良率損耗,英國 SHAW 在線露點儀 Superdew3 是晶圓廠載氣監測的標準配置。

不少芯片廠房曾依靠人工定時取樣檢測載氣露點,監測存在明顯空檔:純化分子篩失效、管路接頭微漏、氫氣供氣帶水等隱患無法第一時間發現,等到測試檢出大量不良芯片,早已產生巨額原料與產能損失。英國 SHAW 在線露點儀 Superdew3 可多點分布式安裝,分別布設在刻蝕機氬氣進氣管道、擴散爐氮氫混合氣管路、封裝腔體保護氣前端,實現 7×24 小時不間斷在線露點測量,全程把控載氣干燥指標。英國 SHAW 在線露點儀 Superdew3 搭載原廠氧化鋁高精度傳感器,量程覆蓋 - 100℃至 + 20℃露點,多規格探頭適配不同高純載氣工況,±2℃整機測量精度搭配 0.1℃高分辨率,ppmV 級微量水分波動均可快速捕捉,干轉濕響應僅 20 秒,提前預判純化設備性能衰減。
半導體潔凈車間對儀表材質、抗污能力、布線靈活性要求嚴苛,英國 SHAW 在線露點儀 Superdew3 針對性適配無塵產線環境。探頭采用 316 不銹鋼材質,搭配 50 微米燒結不銹鋼過濾器,阻隔管路微粒、工藝副產物,避免傳感器污染漂移;主機與傳感器最長支持千米遠距離布線,大型 Fab 多條長距離載氣總管無需增設中轉監測機柜,布線改造簡單高效。英國 SHAW 在線露點儀 Superdew3 配備兩路獨立可編程報警繼電器,工藝工程師可根據刻蝕、擴散、封裝不同工序設定專屬露點閾值,載氣水分超標即刻觸發報警,同步輸出隔離 4-20mA 信號對接廠區 MES 與 PLC 系統,數據全程留存可追溯,方便快速定位漏氣、純化失效點位。
便捷的 AutoCal 自動校準功能是英國 SHAW 在線露點儀 Superdew3 一大優勢,出廠附帶可溯源國際 NPL 標準校準證書,長期連續運行數據穩定無漂移,儀表與傳感器享受一整年原廠質保,大幅降低產線儀表運維成本。如今國內多家 12 英寸晶圓制造、封測企業,全線部署英國 SHAW 在線露點儀 Superdew3 搭建高純載氣監測網絡。依托英國 SHAW 在線露點儀 Superdew3 不間斷、穩定可靠的露點數據,氬、氮、氫載氣水分得到精準管控,刻蝕圖形偏移、擴散薄膜缺陷、封裝焊線氧化等不良問題大幅減少,芯片生產良率穩步提升,為半導體納米制程筑牢高純氣源的水分防護屏障